産業財産権

マイクロRNAにおけるメチル化修飾部位を計測する方法

マイクロRNAにおけるメチル化修飾部位を計測する方法
種別 特許
出願番号 特願2014-266607
出願日 2014年12月26日
公開番号 特開2016-123338
公開日 2016年7月11日
出願人 いであ株式会社、株式会社エバンス、国立大学法人大阪大学
発明者 石井 秀始、森 正樹、土岐 祐一郎、西田 尚弘、今野 雅允、小関 準、川本 弘一、大房 健、近藤 礎、中村 眞
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